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QT-9000 Series
大范围集成电路测试体系(Direct Mount) QT-9000
QT-8000 Series
数字模仿混淆信号IC测试体系(Cable Mount) QT-8100
数位模仿混淆信号IC测试体系(Direct Mount)QT-8200
大功率加强型混淆信号IC测试体系 (Cable Mount)QT-8100HP
QT-7000 Series
集成电路测试体系 (Cable Mount)QT-7200
QT-6000 Series
分立器件高速测试体系 QT-6000
QT-4000 Series
分立器件测试体系 QT-4100
综合测试平台 TB-14
QT-3000 Series
QT-3109 DR
QT-3108 SW
QT-3104 QG
雪崩测试仪QT-3101
热阻测试仪 QT-3102
MOSFET RG/CG 测试体系 QT-3107
QT-3105 TRR

Test System

QT-8000 Series数字模仿混淆信号IC测试体系(Cable Mount) QT-8100

数字模仿混淆信号IC测试体系(Cable Mount) QT-8100

QT-8100 IC测试体系实用于惯例DC、AC参数测试和混淆类及模仿类IC器件功效性测试。
次要测试:电源办理类;数码消耗类;音频类;汽车、节能环保电子类;特别公用或定制类IC以及晶圆测试。

次要特点

• 悬浮电源,四象限
• 混淆信号IC多site并行测试
• 最高100MHz的数字信号
• 8M向量深度
• 20个模仿槽位(Max 224通道)/8个数字槽位(Max 256通道)
• 支持RF、LCR、EAS、热阻扩展
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